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思達(dá)科技再推出應(yīng)用在WAT測(cè)試的3D/2.5D MEMS探針卡系列產(chǎn)品

2024-06-13 來源:科技網(wǎng)
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關(guān)鍵詞: 半導(dǎo)體 探針

思達(dá)科技推出新款MEMS微懸臂式探針卡。思達(dá)科技



半導(dǎo)體測(cè)試探針卡領(lǐng)導(dǎo)供應(yīng)商 – 思達(dá)科技,宣布推出應(yīng)用在WAT(晶圓驗(yàn)收)測(cè)試的新款3D/2.5D MEMS微懸臂式探針卡系列產(chǎn)品。處女座Virgo-Prima系列呈現(xiàn)探針卡應(yīng)用、制造,以及量測(cè)的融合能力。透過優(yōu)化的設(shè)計(jì)和結(jié)構(gòu),MEMS探針卡系列提供產(chǎn)業(yè)界客戶,最佳的晶圓級(jí)參數(shù)和可靠度測(cè)試介面解決方案。


為滿足高效能運(yùn)算(HPC)和高容量資料分析不斷成長的需求,探針卡制造商持續(xù)專注在先進(jìn)探針的研發(fā),而MEMS探針技術(shù)已被視為關(guān)鍵的競爭因素。在推出3D/2.5D MEMS微懸臂式WAT探針卡之后,思達(dá)在MEMS探針卡的設(shè)計(jì)上,呈現(xiàn)更多的創(chuàng)新,以符合電性量測(cè)的測(cè)試需求,并達(dá)到更高的生產(chǎn)良率。


思達(dá)處女座Virgo-Prima系列MEMS探針卡,支援從室溫到150℃寬溫度范圍的量測(cè),應(yīng)用涵蓋產(chǎn)業(yè)的測(cè)試要求,如HCI、NBTI、TDDB、EM,和RF射頻訊號(hào)完整性等。除了支援Keysight 4070/4080系列參數(shù)測(cè)試儀外,思達(dá)也推出了應(yīng)用在產(chǎn)業(yè)界大多數(shù)特性驗(yàn)證測(cè)試儀器,如Keysight MPPT、P9002A等的WAT MEMS探針卡。這款探針卡系列產(chǎn)品,具備可更換的測(cè)試頭,可對(duì)應(yīng)于不同的PCB設(shè)計(jì),減少對(duì)準(zhǔn)時(shí)間且維持測(cè)試儀的可利用性。


思達(dá)科技執(zhí)行長暨技術(shù)長劉俊良博士表示:“隨著更多元的產(chǎn)業(yè)應(yīng)用和混合式元件變得普遍,對(duì)半導(dǎo)體制造商來說,WAT測(cè)試是日益重要的程序。探針卡作為測(cè)試介面,不僅是高單價(jià)的消耗品,也必須確保分析結(jié)果是可信賴的。思達(dá)處女座Virgo MEMS探針卡系列產(chǎn)品,是專為市場趨勢(shì)而設(shè)計(jì),是制造商未來的開發(fā)上,最佳的探測(cè)解決方案?!?/span>