半導體測試探針主要應用于半導體芯片的設計驗證，晶圓測試、成品測試的環(huán)節(jié)，是連通芯片/晶圓與測試設備進行信號傳輸?shù)暮诵牧悴考?，他對半導體產(chǎn)品的質(zhì)量控制起著重要的作用

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